Grain boundary segregation in multicrystalline silicon studied by correlative microscopy

Weitere Titel
Korngrenzensegregation in multikristallinem Silizium
Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
RWTH Aachen University, Dissertation, 2017

Klassifikation
Physik
Schlagwort
Segregation
Microscopy
Grain
Silicon
Scanning transmission electron microscopy

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Aachen
(wer)
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
(wann)
2017
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Raabe, Dierk
Mayer, Joachim

DOI
10.18154/RWTH-2017-06812
URN
urn:nbn:de:101:1-2018062607020942015917
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:41 MEZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2017

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