Comparative Study of Negative Capacitance Field-Effect Transistors with Different MOS Capacitances

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
1556-276X
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Comparative Study of Negative Capacitance Field-Effect Transistors with Different MOS Capacitances ; volume:14 ; number:1 ; day:24 ; month:5 ; year:2019 ; pages:1-6 ; date:12.2019
Nanoscale research letters ; 14, Heft 1 (24.5.2019), 1-6, 12.2019

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik

Urheber
Li, Jing
Liu, Yan
Han, Genquan
Zhou, Jiuren
Hao, Yue
Beteiligte Personen und Organisationen
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1186/s11671-019-3013-z
URN
urn:nbn:de:101:1-2019091905323532962891
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:31 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

  • Li, Jing
  • Liu, Yan
  • Han, Genquan
  • Zhou, Jiuren
  • Hao, Yue
  • SpringerLink (Online service)

Ähnliche Objekte (12)