Hochschulschrift

Internal laser probing techniques for power devices : analysis, modeling and simulation

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Language
Deutsch
Notes
München, Techn. Univ., Diss., 2000

Keyword
Leistungshalbleiter
Temperaturverteilung
Ladungsträger
Dichte
Brechungsindexprofil
Lasermesstechnik

Creator

URN
urn:nbn:de:bvb:91-diss2000110715343
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:50 PM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

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