Thickness‐Related Analog Switching in SiO x/Cu/SiO x Memristive Devices for Neuromorphic Applications
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Erschienen in
-
Thickness‐Related Analog Switching in SiO x/Cu/SiO x Memristive Devices for Neuromorphic Applications ; day:18 ; month:12 ; year:2024 ; extent:10
Advanced engineering materials ; (18.12.2024) (gesamt 10)
- Urheber
-
Lamprecht, Rouven
Vialetto, Luca
Gergs, Tobias
Zahari, Finn
Marquardt, Richard
Kohlstedt, Hermann
Trieschmann, Jan
- DOI
-
10.1002/adem.202401824
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2412191318365.876585022521
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:20 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Lamprecht, Rouven
- Vialetto, Luca
- Gergs, Tobias
- Zahari, Finn
- Marquardt, Richard
- Kohlstedt, Hermann
- Trieschmann, Jan
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