Characterization of grain boundaries in multicrystalline silicon with high lateral resolution using conductive atomic force microscopy

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Journal of Applied Physics 112.3 (2012): 07.11.2012

Classification
Physik
Keyword
-

Event
Veröffentlichung
(where)
Erlangen
(who)
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
(when)
2012
Contributor
Rumler, Maximilian
Rommel, Mathias
Erlekampf, Jürgen
Azizi, Maral
Geiger, Tobias
Bauer, Anton J.
Meißner, Elke
Frey, Lothar

URN
urn:nbn:de:bvb:29-opus-38398
Rights
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Last update
14.08.2025, 10:49 AM CEST

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  • Rommel, Mathias
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  • Azizi, Maral
  • Geiger, Tobias
  • Bauer, Anton J.
  • Meißner, Elke
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  • Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)

Time of origin

  • 2012

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