Investigation of negative capacitance and junctionless MOSFETs for CMOS scaling
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen, Dissertation, 2018
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Aachen
- (wer)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (wann)
-
2018
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- DOI
-
10.18154/RWTH-2019-00281
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2019062706583352608749
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:55 MEZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Han, Qinghua
- Knoch, Joachim
- Mantl, Siegfried
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Entstanden
- 2018
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