Investigation of negative capacitance and junctionless MOSFETs for CMOS scaling
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen, Dissertation, 2018
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Aachen
- (who)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (when)
-
2018
- Creator
- Contributor
- DOI
-
10.18154/RWTH-2019-00281
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2019062706583352608749
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:55 PM CET
Data provider
This object is provided by:
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Associated
- Han, Qinghua
- Knoch, Joachim
- Mantl, Siegfried
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Time of origin
- 2018
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