Exploring nanowire regrowth for the integration of bottom-up grown silicon nanowires into AFM scanning probes

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Journal of micromechanics and microengineering(31, 2021), H. 5

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Ilmenau
(wer)
TU Ilmenau
(wann)
2021
Urheber

DOI
10.1088/1361-6439/abf332
URN
urn:nbn:de:101:1-2022021506400316723301
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:50 MEZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2021

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