Hochschulschrift

Strukturelle Eigenschaften von Cu(In,Ga)(Se,S)2-Dünnschichten

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Dateien im PDF-Format
Stuttgart, Univ., Diss., 2003

Schlagwort
Kupferchalkogenide
Dünne Schicht
Zusammensetzung
Tiefenprofilmessung
Röntgendiffraktometrie
Streifender Einfall
Röntgenbeugung ; Streifender Einfall ; Kupferkiesstruktur ; Dünnschichtsolarzelle ; Tiefenprofilmessung ; Zusammensetzung ; Dünnschichttechnik

Urheber

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-13815
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:52 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

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