Hochschulschrift
Strukturelle Eigenschaften von Cu(In,Ga)(Se,S)2-Dünnschichten
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Dateien im PDF-Format
Stuttgart, Univ., Diss., 2003
- Schlagwort
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Kupferchalkogenide
Dünne Schicht
Zusammensetzung
Tiefenprofilmessung
Röntgendiffraktometrie
Streifender Einfall
Röntgenbeugung ; Streifender Einfall ; Kupferkiesstruktur ; Dünnschichtsolarzelle ; Tiefenprofilmessung ; Zusammensetzung ; Dünnschichttechnik
- Urheber
- URN
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urn:nbn:de:bsz:93-opus-13815
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:52 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift