Hochschulschrift
Röntgenfluoreszenzanalyse an Cu(In,Ga)Se2-Dünnschichten zur Bestimmung der Elementtiefengradienten
- Weitere Titel
-
X-ray fluorescence analysis at Cu(In,Ga)Se2-thin films to determine the elemental in-depth gradients
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Berlin, Technische Universität Berlin, Diss., 2014
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin
- (wer)
-
Technische Universität Berlin
- (wann)
-
2014
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Mainz, Roland
Kanngießer, Birgit
Schock, Hans-Werner
Beckhoff, Burkhard
- URN
-
urn:nbn:de:kobv:83-opus4-52215
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 15.08.2025, 07:24 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Streeck, Cornelia
- Mainz, Roland
- Kanngießer, Birgit
- Schock, Hans-Werner
- Beckhoff, Burkhard
- Technische Universität Berlin
Entstanden
- 2014
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