Hochschulschrift
Röntgenfluoreszenzanalyse an Cu(In,Ga)Se2-Dünnschichten zur Bestimmung der Elementtiefengradienten
- Alternative title
-
X-ray fluorescence analysis at Cu(In,Ga)Se2-thin films to determine the elemental in-depth gradients
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Berlin, Technische Universität Berlin, Diss., 2014
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Berlin
- (who)
-
Technische Universität Berlin
- (when)
-
2014
- Creator
- Contributor
-
Mainz, Roland
Kanngießer, Birgit
Schock, Hans-Werner
Beckhoff, Burkhard
- URN
-
urn:nbn:de:kobv:83-opus4-52215
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:24 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Streeck, Cornelia
- Mainz, Roland
- Kanngießer, Birgit
- Schock, Hans-Werner
- Beckhoff, Burkhard
- Technische Universität Berlin
Time of origin
- 2014
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