Hochschulschrift

Auger-elektronenspektroskopische Untersuchung ohmscher NiAuGe-Kontakte auf GaAs

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
70 Bl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Berlin, Akad. d. Wiss. d. DDR, Diss. A, 1988 (Nicht f.d. Austausch)

Schlagwort
Dünne Schicht
Auger-Elektronenspektroskopie
Halbleiterbauelemente
Dünne Schicht
Auger-Spektroskopie
Halbleiterbauelement

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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:07 MEZ

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Objekttyp

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