Hochschulschrift
Röntgenreflektometrie und Ionenstrahlmischen an ohmschen Kontakten auf GaAs
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
138 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Darmstadt, Techn. Hochsch., Diss., 1995
- Schlagwort
-
Galliumarsenid
Ohm-Kontakt
Mehrschichtsystem
Ionenstrahlmischen
Galliumarsenid
Ohm-Kontakt
Mehrschichtsystem
Röntgendiffraktometrie
- Urheber
-
Pirling, Thilo
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:34 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Pirling, Thilo
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