Hochschulschrift
Modellierung von Schädigungsmechanismen in Metallisierungsschichten unter schneller Temperaturwechselbelastung
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783899597936
- Maße
-
25 cm
- Umfang
-
VIII, 148 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2008
- Erschienen in
-
MEMS technology and engineering ; Vol. 9
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
DMOS-FET
Leistungstransistor
Thermische Belastung
Zyklische Belastung
Metallisierungsschicht
Kurzschluss
DMOS-FET
Metallisierungsschicht
Thermomechanische Eigenschaft
Leiterbahn
Ratcheting
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Tönning, Lübeck, Marburg
- (wer)
-
Der Andere Verl.
- (wann)
-
2008
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 11:51 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Smorodin, Tobias
- Der Andere Verl.
Entstanden
- 2008
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