Hochschulschrift
Charakterisierung von Silizium-Strukturen mittels Elektrolyt-Elektroreflexion
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
29 cm
- Extent
-
96 Bl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Ilmenau, Techn. Univ., Diss., 1996
- Keyword
-
Silicium
Mehrschichtsystem
Elektrolyt
Grenzfläche
Elektroreflexion
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 12:17 PM CET
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Object type
- Hochschulschrift
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