Hochschulschrift
Ortsaufgelöste Leckstrom-Messungen an der Silizium-Elektrolyt-Grenzfläche
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
IV, 168 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Kiel, Univ., Diss., 2001
- Keyword
-
Silicium
Wafer
Leckstrom
Elektrolyt
Grenzfläche
Rasterelektrochemisches Mikroskop
- Creator
-
Korallus, Jens
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 12:06 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Korallus, Jens
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