Eingebauter Selbsttest für kleine Verzögerungsfehler

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Paderborn, Universität Paderborn, Dissertation, 2020

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Built-in self test
Verzögerung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Paderborn
(wer)
Universitätsbibliothek
(wann)
2020
Urheber
Kampmann, Matthias

URN
urn:nbn:de:hbz:466:2-36468
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:54 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Kampmann, Matthias
  • Universitätsbibliothek

Entstanden

  • 2020

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