- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Karlsruhe, Univ., Diss., 2000
- Klassifikation
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Informatik
- Schlagwort
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Entwurfsautomation
Chip
Selbsttest
Testmustergenerator
Akkumulator
- Urheber
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Mayer, Frank
- URN
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urn:nbn:de:swb:90-AAA6120007
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 15.08.2025, 07:20 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Mayer, Frank