Selbsttest mit Akkumulatoren

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Karlsruhe, Univ., Diss., 2000

Klassifikation
Informatik
Schlagwort
Entwurfsautomation
Chip
Selbsttest
Testmustergenerator
Akkumulator

Urheber
Mayer, Frank

URN
urn:nbn:de:swb:90-AAA6120007
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:20 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Mayer, Frank

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