Negative Differential Resistance Effect in Ru-Based RRAM Device Fabricated by Atomic Layer Deposition

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
1556-276X
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Negative Differential Resistance Effect in Ru-Based RRAM Device Fabricated by Atomic Layer Deposition ; volume:14 ; number:1 ; day:11 ; month:3 ; year:2019 ; pages:1-5 ; date:12.2019
Nanoscale research letters ; 14, Heft 1 (11.3.2019), 1-5, 12.2019

Urheber
Feng, Yulin
Huang, Peng
Zhou, Zheng
Ding, Xiangxiang
Liu, Lifeng
Liu, Xiaoyan
Kang, Jinfeng
Beteiligte Personen und Organisationen
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1186/s11671-019-2885-2
URN
urn:nbn:de:101:1-2019040423581506766600
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 11:01 MESZ

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Beteiligte

  • Feng, Yulin
  • Huang, Peng
  • Zhou, Zheng
  • Ding, Xiangxiang
  • Liu, Lifeng
  • Liu, Xiaoyan
  • Kang, Jinfeng
  • SpringerLink (Online service)

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