Negative Differential Resistance Effect in Ru-Based RRAM Device Fabricated by Atomic Layer Deposition
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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1556-276X
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Negative Differential Resistance Effect in Ru-Based RRAM Device Fabricated by Atomic Layer Deposition ; volume:14 ; number:1 ; day:11 ; month:3 ; year:2019 ; pages:1-5 ; date:12.2019
Nanoscale research letters ; 14, Heft 1 (11.3.2019), 1-5, 12.2019
- Urheber
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Feng, Yulin
Huang, Peng
Zhou, Zheng
Ding, Xiangxiang
Liu, Lifeng
Liu, Xiaoyan
Kang, Jinfeng
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1186/s11671-019-2885-2
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2019040423581506766600
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 11:01 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Feng, Yulin
- Huang, Peng
- Zhou, Zheng
- Ding, Xiangxiang
- Liu, Lifeng
- Liu, Xiaoyan
- Kang, Jinfeng
- SpringerLink (Online service)