Hochschulschrift
Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
- Alternative title
-
Depth profiling on ion conducting glasses by means of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS)
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Marburg, Philipps-Universität Marburg, Diss., 2014
- Classification
-
Chemie
Medizin, Gesundheit
- Keyword
-
Sekundärionen-Massenspektrometrie
Gesteinsglas
Alkalität
Impedanzspektroskopie
Profil
Leitfähigkeit
Knochen
Ionentransport
Gläser, Leitfähigkeit, ToF-SIMS, Tiefenprofilierung
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Marburg
- (who)
-
Philipps-Universität Marburg
- (when)
-
2014
- Creator
- Contributor
-
Roling, Bernhard
- URN
-
urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03389
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:44 PM CET
Data provider
This object is provided by:
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Zakel, Julia
- Roling, Bernhard
- Philipps-Universität Marburg
Time of origin
- 2014
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