Pattern analysis and understanding

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540513780
3540513787
9780387513782
0387513787
Maße
24 cm
Umfang
XIV, 371 S.
Ausgabe
2. ed.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
160 Ill. u. graph. Darst.
Literaturverz. S. 343 - 364

Erschienen in
Springer series in information sciences ; 4

Schlagwort
Musteranalyse
Erkennung
Erkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg, New York, London, Paris, Tokyo, Hong Kong
(wer)
Springer
(wann)
1990
Urheber

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:57 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 1990

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