Recent issues in pattern analysis and recognition

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540518150
3540518150
9780387518152
0387518150
Dimensions
25 cm
Extent
400 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Bibliographic citation
Lecture notes in computer science ; 399

Keyword
Musteranalyse
Mustererkennung

Event
Veröffentlichung
(where)
New York, Berlin, Heidelberg, London, Paris, Tokyo, Hong Kong
(who)
Springer
(when)
1989
Contributor
Cantoni, Virginio

Table of contents
Rights
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Last update
11.03.2025, 12:07 PM CET

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  • Cantoni, Virginio
  • Springer

Time of origin

  • 1989

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