Recent issues in pattern analysis and recognition

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540518150
3540518150
9780387518152
0387518150
Maße
25 cm
Umfang
400 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Erschienen in
Lecture notes in computer science ; 399

Schlagwort
Musteranalyse
Mustererkennung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
New York, Berlin, Heidelberg, London, Paris, Tokyo, Hong Kong
(wer)
Springer
(wann)
1989
Beteiligte Personen und Organisationen
Cantoni, Virginio

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:07 MEZ

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Beteiligte

  • Cantoni, Virginio
  • Springer

Entstanden

  • 1989

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