Hochschulschrift

Untersuchungen an Cu-Ni- u[nd] Cu-Al-Systemen mit der Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS)

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
92 S.
Edition
Als Ms. gedr.
Language
Deutsch
Notes
40 graph. Darst.
Parallelt.: Investigations on Cu-Ni and Cu-Al systems with secondary ion mass spectrometry (SIMS) / by H. Rodriguez-Murcia ; H. E. Beske.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Fak. f. Maschinenwesen, Diss. H. Rodriguez-Murcia, 1976.

Bibliographic citation
Berichte der Kernforschungsanlage Jülich / Kernforschungsanlage Jülich des Landes Nordrhein-Westfalen ; Nr. 1292 : Zentralabt. für Chem. Analysen

Keyword
Ion
Kupfer-Nickel-Legierung
Kupfer-Aluminium-Legierung
Massenspektrometrie
Nickellegierungen
Aluminiumlegierungen
Massenspektroskopie
Kupferlegierungen
Ion
Massenspektrometrie
Nickellegierung
Aluminiumlegierung
Kupferlegierung

Event
Veröffentlichung
(where)
Jülich
(who)
Zentralbibliothek d. Kernforschungsanlage Jülich GmbH
(when)
1976
Creator
Rodriguez-Murcia, Humberto
Beske, Horst E.
Contributor

Table of contents
Rights
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Last update
11.06.2025, 1:54 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 1976

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