Toward surface defect detection in electronics manufacturing by an accurate and lightweight YOLO-style object detector
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource, 1 online resource.
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Toward surface defect detection in electronics manufacturing by an accurate and lightweight YOLO-style object detector ; volume:13 ; number:1 ; day:1 ; month:5 ; year:2023 ; pages:1-12 ; date:12.2023
Scientific reports ; 13, Heft 1 (1.5.2023), 1-12, 12.2023
- Urheber
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Wang, Jyunrong
Dai, Huafeng
Chen, Taogen
Liu, Hao
Zhang, Xuegang
Zhong, Quan
Lu, Rongsheng
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1038/s41598-023-33804-w
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2023090511051352501034
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 11:02 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Wang, Jyunrong
- Dai, Huafeng
- Chen, Taogen
- Liu, Hao
- Zhang, Xuegang
- Zhong, Quan
- Lu, Rongsheng
- SpringerLink (Online service)