Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
LI, 997 S.
Ausgabe
54. Aufl.
Sprache
Deutsch

Erschienen in
Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht ; 54.1995

Schlagwort
Internationaler gewerblicher Rechtsschutz
Gewerblicher Rechtsschutz
Rechtsvergleich

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hürth, Köln
(wer)
Scheer
(wann)
1995
Urheber
Scheer, Stefan

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:34 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Scheer, Stefan
  • Scheer

Entstanden

  • 1995

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