- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
X, 136 S.
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Saarbrücken, Univ., Diss., 1994
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
VLSI
Schaltnetz
Baum
Testbarkeit
Komplexität
VLSI ; Schaltnetz ; Baum ; Testbarkeit ; Komplexität
- Urheber
-
Wu, Hongzhong
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:41 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Wu, Hongzhong
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