Hochschulschrift

On the test complexity of VLSI systems

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
Saarbrücken, Univ., Diss., 1994

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
VLSI
Schaltnetz
Baum
Testbarkeit
Komplexität
VLSI ; Schaltnetz ; Baum ; Testbarkeit ; Komplexität

Creator
Wu, Hongzhong

URN
urn:nbn:de:bsz:291-scidok-11971
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:53 AM CEST

Data provider

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Wu, Hongzhong

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