- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Notes
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Saarbrücken, Univ., Diss., 1994
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
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VLSI
Schaltnetz
Baum
Testbarkeit
Komplexität
VLSI ; Schaltnetz ; Baum ; Testbarkeit ; Komplexität
- Creator
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Wu, Hongzhong
- URN
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urn:nbn:de:bsz:291-scidok-11971
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
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14.08.2025, 10:53 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Wu, Hongzhong