- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
X, 136 S.
- Language
-
Englisch
- Notes
-
graph. Darst.
Saarbrücken, Univ., Diss., 1994
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
VLSI
Schaltnetz
Baum
Testbarkeit
Komplexität
VLSI ; Schaltnetz ; Baum ; Testbarkeit ; Komplexität
- Creator
-
Wu, Hongzhong
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:41 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Wu, Hongzhong
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