Thickness uniformity measurements and damage threshold tests of large-area GaAs/AlGaAs crystalline coatings for precision interferometry

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Koch, P.; Cole, G.D.; Deutsch, C.; Follman, D.; Heu, P. et al.: Thickness uniformity measurements and damage threshold tests of large-area GaAs/AlGaAs crystalline coatings for precision interferometry. In: Optics Express 27 (2019), Nr. 25, S. 36731-36740. DOI: https://doi.org/10.1364/OE.27.036731

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover, Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2019
Urheber
Koch, P.
Cole, G.D.
Deutsch, C.
Follman, D.
Heu, P.
Kinley-Hanlon, M.
Kirchhoff, R.
Leavey, S.
Lehmann, J.
Oppermann, P.
Rai, A.K.
Tornasi, Z.
Wöhler, J.
Wu, D.S.
Zederbauer, T.
Lück, H.

DOI
10.15488/10464
URN
urn:nbn:de:101:1-2021030401142098365450
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:54 MEZ

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Beteiligte

  • Koch, P.
  • Cole, G.D.
  • Deutsch, C.
  • Follman, D.
  • Heu, P.
  • Kinley-Hanlon, M.
  • Kirchhoff, R.
  • Leavey, S.
  • Lehmann, J.
  • Oppermann, P.
  • Rai, A.K.
  • Tornasi, Z.
  • Wöhler, J.
  • Wu, D.S.
  • Zederbauer, T.
  • Lück, H.
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2019

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