Thickness uniformity measurements and damage threshold tests of large-area GaAs/AlGaAs crystalline coatings for precision interferometry
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Bibliographic citation
-
In: Koch, P.; Cole, G.D.; Deutsch, C.; Follman, D.; Heu, P. et al.: Thickness uniformity measurements and damage threshold tests of large-area GaAs/AlGaAs crystalline coatings for precision interferometry. In: Optics Express 27 (2019), Nr. 25, S. 36731-36740. DOI: https://doi.org/10.1364/OE.27.036731
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Hannover
- (who)
-
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- (when)
-
2019
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Hannover
- (who)
-
Technische Informationsbibliothek (TIB)
- (when)
-
2019
- Creator
-
Koch, P.
Cole, G.D.
Deutsch, C.
Follman, D.
Heu, P.
Kinley-Hanlon, M.
Kirchhoff, R.
Leavey, S.
Lehmann, J.
Oppermann, P.
Rai, A.K.
Tornasi, Z.
Wöhler, J.
Wu, D.S.
Zederbauer, T.
Lück, H.
- DOI
-
10.15488/10464
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2021030401142098365450
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:25 AM CEST
Data provider
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- Lehmann, J.
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- Rai, A.K.
- Tornasi, Z.
- Wöhler, J.
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- Zederbauer, T.
- Lück, H.
- Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- Technische Informationsbibliothek (TIB)
Time of origin
- 2019
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