Optical and Tactile Measurements on SiC Sample Defects

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: SMSI 2023 - Sensor and Measurement Science International, Nuremberg, Germany, 08.05.2023 - 11.05.2023

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2024
Creator
Grundmann, Jana
Ermilova, Elena
Hertwig, Andreas
Klapetek, Petr
Pereira, Silvania F.
Rafighdoost, Jila
Bodermann, Bernd

DOI
10.5162/SMSI2023/D5.2
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-593397
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:28 AM CEST

Data provider

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Associated

  • Grundmann, Jana
  • Ermilova, Elena
  • Hertwig, Andreas
  • Klapetek, Petr
  • Pereira, Silvania F.
  • Rafighdoost, Jila
  • Bodermann, Bernd
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2024

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