Optical and Tactile Measurements on SiC Sample Defects

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
In: SMSI 2023 - Sensor and Measurement Science International, Nuremberg, Germany, 08.05.2023 - 11.05.2023

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(wann)
2024
Urheber
Grundmann, Jana
Ermilova, Elena
Hertwig, Andreas
Klapetek, Petr
Pereira, Silvania F.
Rafighdoost, Jila
Bodermann, Bernd

DOI
10.5162/SMSI2023/D5.2
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-593397
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:28 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Grundmann, Jana
  • Ermilova, Elena
  • Hertwig, Andreas
  • Klapetek, Petr
  • Pereira, Silvania F.
  • Rafighdoost, Jila
  • Bodermann, Bernd
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Entstanden

  • 2024

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