Hochschulschrift
Photolumineszenzuntersuchungen zur Strukturaufklärung von Defekten in Silizium
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
136 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Stuttgart, Univ., Diss., 1986
- Schlagwort
-
Silizium
Halbleiterbauelemente
Gitterfehler
Silicium
Halbleiterbauelement
Gitterbaufehler
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:15 MESZ
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Objekttyp
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