Archivale
A 4 - Bericht: "Radio-Analytik"
Enthält u. a.: Anwendung der Aktivierungsanalyse für die Halbleitertechnik. - Tabellen. - Diagramme.
- Reference number
-
Brandenburgisches Landeshauptarchiv (BLHA), 504 Mikroel Stdf 96
- Holding
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504 Mikroel Stdf (82315) Rep. 504 VEB Mikroelektronik "Karl Liebknecht" Stahnsdorf
- Context
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Rep. 504 VEB Mikroelektronik "Karl Liebknecht" Stahnsdorf >> Verfahren >> Messverfahren/Gütesicherung
Date of creation
1978
- Other object pages
- Last update
-
06.06.2024, 10:35 AM CEST
Object type
- Archivale
Time of origin
- 1978
Other Objects (12)
Wolf, Hans-Dieter: "Erfassung und Analyse des Parameters - Feuchtigkeit - im Fertigungsabschnitt Diffusion von Siliziumhalbleiterbauelementen". Teilbericht im Rahmen des Forschungsthemas: "Gütesicherung elektronischer Baueinheiten". Diplomarbeit an der Ingenieurhochschule Mittweida, Sektion Elektronischer Gerätebau
G 2 - Bericht zur Vertragsforschung: "Kristallphysikalische Untersuchungen zur Klärung der Wechselwirkung Realstruktur - Kristallzüchtung - Verfahrensschritte an A III B V- und A II B VI- Halbleitern und grundsätzliche Untersuchungen zur Lumineszenz". Auftragnehmer: Martin-Luther-Universität Halle (Saale), Sektion Physik
"Auswertung des Step-Stress-Versuches"
A 4 - Bericht: "Prüf- und Analysenverfahren". Teilthema: "Erarbeitung und Ausführung chemischer Analysenverfahren für die Leistungselektronik und A III B V - Material"
Bericht zur Abschlussverteidigung V 5/0: "Messtechnik für Dioden und Transistoren"
Held, Karl: "Erfassung und Analyse des Parameters - Gasreinheit - im Fertigungsabschnitt Diffusion von Siliziumhalbleiterbauelementen". Teilbericht im Rahmen des Forschungsthemas: "Gütesicherung elektronischer Baueinheiten". Diplomarbeit an der Ingenieurhochschule Mittweida, Sektion Elektronischer Gerätebau
V 5 - Bericht: "Zuverlässigkeit"
A 4 - Bericht: "Analytik II"
A 4 - Thesenabschlussbericht: "Qualitätssicherungssystem Zyklus I (Erzeugnisse)"
V 5 - Bericht: "Messtechnik für leistungselektronische Bauelemente II"
V 5/0 - Bericht: "Ausbeute- und Qualitätssteigerung HST (Hochspannungstransistor)"
Abschlussbericht zur Leistungsstufe GF 4 zum Thema: "Thyristorprüfung: Langfristige volldynamische Prüfung von Halbleiterdioden und Thyristoren". Auftragnehmer: Institut Prüffeld für elektrische Hochleistungstechnik Berlin
Wolf, Hans-Dieter: "Erfassung und Analyse des Parameters - Feuchtigkeit - im Fertigungsabschnitt Diffusion von Siliziumhalbleiterbauelementen". Teilbericht im Rahmen des Forschungsthemas: "Gütesicherung elektronischer Baueinheiten". Diplomarbeit an der Ingenieurhochschule Mittweida, Sektion Elektronischer Gerätebau
G 2 - Bericht zur Vertragsforschung: "Kristallphysikalische Untersuchungen zur Klärung der Wechselwirkung Realstruktur - Kristallzüchtung - Verfahrensschritte an A III B V- und A II B VI- Halbleitern und grundsätzliche Untersuchungen zur Lumineszenz". Auftragnehmer: Martin-Luther-Universität Halle (Saale), Sektion Physik
"Auswertung des Step-Stress-Versuches"
A 4 - Bericht: "Prüf- und Analysenverfahren". Teilthema: "Erarbeitung und Ausführung chemischer Analysenverfahren für die Leistungselektronik und A III B V - Material"
Bericht zur Abschlussverteidigung V 5/0: "Messtechnik für Dioden und Transistoren"
Held, Karl: "Erfassung und Analyse des Parameters - Gasreinheit - im Fertigungsabschnitt Diffusion von Siliziumhalbleiterbauelementen". Teilbericht im Rahmen des Forschungsthemas: "Gütesicherung elektronischer Baueinheiten". Diplomarbeit an der Ingenieurhochschule Mittweida, Sektion Elektronischer Gerätebau
V 5 - Bericht: "Zuverlässigkeit"
A 4 - Bericht: "Analytik II"
A 4 - Thesenabschlussbericht: "Qualitätssicherungssystem Zyklus I (Erzeugnisse)"
V 5 - Bericht: "Messtechnik für leistungselektronische Bauelemente II"
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Abschlussbericht zur Leistungsstufe GF 4 zum Thema: "Thyristorprüfung: Langfristige volldynamische Prüfung von Halbleiterdioden und Thyristoren". Auftragnehmer: Institut Prüffeld für elektrische Hochleistungstechnik Berlin
Wolf, Hans-Dieter: "Erfassung und Analyse des Parameters - Feuchtigkeit - im Fertigungsabschnitt Diffusion von Siliziumhalbleiterbauelementen". Teilbericht im Rahmen des Forschungsthemas: "Gütesicherung elektronischer Baueinheiten". Diplomarbeit an der Ingenieurhochschule Mittweida, Sektion Elektronischer Gerätebau
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