Generating pattern sequences for the pseudo-exhaustive test of MOS-circuits

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: Digest of papers / the Eighteenth International Symposium on Fault-Tolerant Computing, FTCS-18, June 27-30, 1988, Keio Plaza Hotel, Tokyo; Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 1988. - ISBN 0-8186-0867-6, S. 36-41. URL http://dx.doi.org./10.1109/FTCS.1988.5294

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
MOS ; Fehlererkennung ; Selbsttest

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(when)
2012
Creator
Wunderlich, Hans-Joachim
Hellebrand, Sybille

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73421
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:51 PM CET

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Associated

Time of origin

  • 2012

Other Objects (12)