Applied scanning probe methods, 3.. Characterization

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540269090
3540269096
Umfang
XLIII, 378 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.

Erschienen in
Applied scanning probe methods

Klassifikation
Naturwissenschaften
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, Heidelberg, New York
(wer)
Springer
(wann)
2006

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:21 MEZ

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Beteiligte

  • Springer

Entstanden

  • 2006

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