Monografie

Ion induced stress relaxation during the growth of cubic boron nitride thin films

Sprache
Englisch
Anmerkungen
Dresden, Techn. Univ., Diss., 2004
Identifier
972228373

Thema
Bornitrid ; Dünne Schicht ; Magnetronsputtern ; Röntgendiffraktometrie ; Spannungsrelaxation ; 133078 ; Bornitrid ; Dünne Schicht ; Magnetronsputtern ; Röntgendiffraktometrie ; Spannungsrelaxation; Hochschulschrift; Online-Publikation

Beteiligte Personen und Organisationen

URN
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
26.01.2023, 13:55 MEZ

Objekttyp

  • Monografie

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