Untersuchungen von Si- und SiGe-Schichtstrukturen mittels DLTS und CV-Profiler
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
II, 87 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Literaturverz. S. 84 - 87
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Jülich
- (wer)
-
Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek
- (wann)
-
1992
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:04 MESZ
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Beteiligte
- Apetz, Rolf
- Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek
Entstanden
- 1992
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