Hochschulschrift
Fehlermodelle und Verfahren für die Fehleremulation digitaler Schaltungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183393213
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
X, 129 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben
Zugl.: Hannover, Univ., Diss., 2009
- Erschienen in
-
Fortschritt-Berichte VDI / 21 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 393, Reihe 21
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
CMOS-Schaltung
Gattersimulation
Testmuster
Fehlermodell
Fehlersimulation
Emulation
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:56 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Weinkopf, Jan Torben
- VDI-Verl.
Entstanden
- 2010
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