Lebensdauermodellierung diskreter Leistungselektronikbauelemente unter Berücksichtigung überlagerter Lastwechseltests
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Chemnitz, Technische Universität Chemnitz, Dissertation, 2020
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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Leistungselektronik
Lebensdauer
Test
Bauelement
Belastung
Leistungshalbleiter
Leistungselektronik
Leistungshalbleiter
Zuverlässigkeit
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Chemnitz
- (wer)
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Technische Universität Chemnitz
- (wann)
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2021
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Rzepka, Sven
Rzepka, Sven
Lutz, Josef
Lang, Klaus-Dieter
- URN
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urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa2-741382
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:55 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Otto, Alexander
- Rzepka, Sven
- Lutz, Josef
- Lang, Klaus-Dieter
- Technische Universität Chemnitz
Entstanden
- 2021