Lebensdauermodellierung diskreter Leistungselektronikbauelemente unter Berücksichtigung überlagerter Lastwechseltests

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Deutsch
Notes
Chemnitz, Technische Universität Chemnitz, Dissertation, 2020

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Leistungselektronik
Lebensdauer
Test
Bauelement
Belastung
Leistungshalbleiter
Leistungselektronik
Leistungshalbleiter
Zuverlässigkeit

Event
Veröffentlichung
(where)
Chemnitz
(who)
Technische Universität Chemnitz
(when)
2021
Creator
Contributor
Rzepka, Sven
Lutz, Josef
Lang, Klaus-Dieter

URN
urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa2-741382
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:47 AM CEST

Data provider

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Associated

  • Otto, Alexander
  • Rzepka, Sven
  • Lutz, Josef
  • Lang, Klaus-Dieter
  • Technische Universität Chemnitz

Time of origin

  • 2021

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