Hochschulschrift

Zum modellbasierten funktionalen Test reaktiver Systeme

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
VIII, 234 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
München, Techn. Univ., Diss., 2003

Klassifikation
Informatik
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Chipkarte
Reaktives System
Modellbasiertes Testen
Constraint-logische Programmierung
Eingebettetes System / Reaktives System / Constraint-Programmierung / Model checking

Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 11:59 MEZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Ähnliche Objekte (12)