Hochschulschrift
Entwurfsverfahren zum impliziten funktionalen Test analoger integrierter Schaltungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
121 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
München, Techn. Univ., Diss., 2004
- Klassifikation
-
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Schlagwort
-
Analoge integrierte Schaltung
Funktionstest
Anforderung
Spezifikation
Simulation
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:24 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
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