Hochschulschrift | Online-Publikation
Zum modellbasierten funktionalen Test reaktiver Systeme
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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München, Techn. Univ., Diss., 2003
- Klassifikation
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Informatik
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Schlagwort
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Chipkarte
Reaktives System
Modellbasiertes Testen
Constraint-logische Programmierung
Eingebettetes System / Reaktives System / Constraint-Programmierung / Model checking
- Urheber
- URN
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urn:nbn:de:bvb:91-diss2003080417234
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:44 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation