Hochschulschrift

Micromechanical indentation study of stress related effects in transistor channels

Alternative title
Micromechanical indentation study of stress related effects ...
Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783839617977
3839617979
Dimensions
21 cm
Extent
134 Seiten
Language
Englisch
Notes
Illustrationen, Diagramme
Technische Universität Dresden, Dissertation, 2021

Bibliographic citation
Schriftenreihe Kompetenzen in Keramik und Materialdiagnostik ; vol. 1

Classification
Elektrotechnik, Elektronik

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Fraunhofer Verlag
(when)
[2022]
Creator
Contributor
Fraunhofer IRB-Verlag
Fraunhofer IKTS, Dresden

Table of contents
Rights
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Last update
11.06.2025, 1:31 PM CEST

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Object type

  • Hochschulschrift

Associated

Time of origin

  • [2022]

Other Objects (12)