Hochschulschrift
Micromechanical indentation study of stress related effects in transistor channels
- Alternative title
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Micromechanical indentation study of stress related effects ...
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783839617977
3839617979
- Dimensions
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21 cm
- Extent
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134 Seiten
- Language
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Englisch
- Notes
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Illustrationen, Diagramme
Technische Universität Dresden, Dissertation, 2021
- Bibliographic citation
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Schriftenreihe Kompetenzen in Keramik und Materialdiagnostik ; vol. 1
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Stuttgart
- (who)
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Fraunhofer Verlag
- (when)
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[2022]
- Creator
- Contributor
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 1:31 PM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Schlipf, Simon
- Fraunhofer IRB-Verlag
- Fraunhofer IKTS, Dresden
- Fraunhofer Verlag
Time of origin
- [2022]