Laser intensity effects in carrier-envelope phase-tagged time of flight-photoemission electron microscopy
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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1432-0649
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Laser intensity effects in carrier-envelope phase-tagged time of flight-photoemission electron microscopy ; volume:122 ; number:4 ; day:12 ; month:4 ; year:2016 ; pages:1-10 ; date:4.2016
Applied physics / B. B, Lasers and optics ; 122, Heft 4 (12.4.2016), 1-10, 4.2016
- Urheber
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Chew, S. H.
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Gliserin, A.
Schmidt, J.
Bian, H.
Nobis, S.
Schertz, F.
Kübel, M.
Yang, Y.-Y
Loitsch, B.
Stettner, T.
Finley, J. J.
Späth, C.
Ouacha, H.
Azzeer, A. M.
Kleineberg, U.
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- DOI
-
10.1007/s00340-016-6374-3
- URN
-
urn:nbn:de:1111-201604141901
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:56 MESZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Chew, S. H.
- Gliserin, A.
- Schmidt, J.
- Bian, H.
- Nobis, S.
- Schertz, F.
- Kübel, M.
- Yang, Y.-Y
- Loitsch, B.
- Stettner, T.
- Finley, J. J.
- Späth, C.
- Ouacha, H.
- Azzeer, A. M.
- Kleineberg, U.
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