Laser intensity effects in carrier-envelope phase-tagged time of flight-photoemission electron microscopy

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
1432-0649
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
online resource.

Bibliographic citation
Laser intensity effects in carrier-envelope phase-tagged time of flight-photoemission electron microscopy ; volume:122 ; number:4 ; day:12 ; month:4 ; year:2016 ; pages:1-10 ; date:4.2016
Applied physics / B. B, Lasers and optics ; 122, Heft 4 (12.4.2016), 1-10, 4.2016

Creator
Chew, S. H.
Contributor
Gliserin, A.
Schmidt, J.
Bian, H.
Nobis, S.
Schertz, F.
Kübel, M.
Yang, Y.-Y
Loitsch, B.
Stettner, T.
Finley, J. J.
Späth, C.
Ouacha, H.
Azzeer, A. M.
Kleineberg, U.
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1007/s00340-016-6374-3
URN
urn:nbn:de:1111-201604141901
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:56 AM CEST

Data provider

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  • Chew, S. H.
  • Gliserin, A.
  • Schmidt, J.
  • Bian, H.
  • Nobis, S.
  • Schertz, F.
  • Kübel, M.
  • Yang, Y.-Y
  • Loitsch, B.
  • Stettner, T.
  • Finley, J. J.
  • Späth, C.
  • Ouacha, H.
  • Azzeer, A. M.
  • Kleineberg, U.
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