Hochschulschrift
Elektronenmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an Edelmetall-Silizium-Systemen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
95 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Bochum, Univ., Diss., 1985
- Schlagwort
-
Edelmetalle
Halbleiterbauelemente
Grenzfläche
Silizium
Edelmetalllegierung
Halbleiterbauelement
Grenzfläche
Silicium
- Urheber
-
Hanbücken, Margit
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:04 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Hanbücken, Margit
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