Hochschulschrift
Elektronenmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an Edelmetall-Silizium-Systemen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
95 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Bochum, Univ., Diss., 1985
- Keyword
-
Edelmetalle
Halbleiterbauelemente
Grenzfläche
Silizium
Edelmetalllegierung
Halbleiterbauelement
Grenzfläche
Silicium
- Creator
-
Hanbücken, Margit
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:04 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Hanbücken, Margit
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