Hochschulschrift
Eigenspannungsmessungen an einkristallinen und polykristallinen Materialien mittels digitaler Bildkorrelation und Focused Ion Beam
- Weitere Titel
-
Residual stress measurements on single and polycrystalline materials by means of digital image correlation and focused ion beam
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2016
- Erschienen in
-
FAU Studien Materialwissenschaft und Werkstofftechnik ; 11
- Schlagwort
-
Eigenspannung
Elastizität
Anisotropie
Bildkorrelation
Ionenstrahlanalyse
Nickellegierung
Schutzschicht
Kohlenstoff
Amorpher Zustand
Metallisches Glas
Eigenspannung
Messung
Mechanische Spannung
Bildkorrelation
Material
Bildkorrelation
Eigenspannung
Elastizitätstheorie
Ionenstoß
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Erlangen
- (wer)
-
FAU University Press
- (wann)
-
2016
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Göken, Mathias
Eberl, Chris
FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-79521
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:51 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Krottenthaler, Markus
- Göken, Mathias
- Eberl, Chris
- FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek
- FAU University Press
Entstanden
- 2016
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